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题名:
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逆问题的数学理论导论 : 第2版 Ni Wen Ti De Shu Xue Li Lun Dao Lun Di 2Ban / (德) 基尔施 (Kirsch,A.) 著 , |
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ISBN:
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978-7-5192-0267-5 价格： CNY55.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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305页 15cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 世界图书出版公司北京公司 出版日期： 2015.9 |
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内容提要:
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本书将读者带进了逆问题领域。逆问题的研究对许多科技领域诸如地球物理探测、系统识别、无损检测及超声层析成像等，有着重要的作用。该书分两部分。第一部分讲不适定问题的基本概念和困难。书中通过几个简单的解析数值算例研究了线性不适定问题正则法的基本特征。该书的第2部分详细地研究了三个特殊非线性逆问题，即逆谱问题、电阻抗断层成像逆问题和逆散射问题。 |
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主题词:
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逆问题 数学理论 |
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中图分类法:
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O175 版次： 5 |
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主要责任者:
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基尔施 Kirsch Ji Er Shi Kirsch |
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主要责任者:
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A. 著 A.Zhu |
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版次:
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影印本 |
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索书号:
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1 |